Optik / Photonik

Verbesserte Analyse von Mikropartikeln mit Raman-Spektroskopie

Angebot: Verbesserter Analysator „ParticleScout“ zur automatischen Partikelanalyse mithilfe der Raman-Spektroskopie. Die neuen Funktionen erlauben es, Mikropartikel noch schneller und nutzerfreundlicher zu lokalisieren, zu klassifizieren und zu identifizieren. Damit genügt das Gerät den technischen Anforderungen aus Disziplinen wie Umweltforschung, Lebensmitteltechnologie und pharmazeutische Forschung.

Merkmale: Das Gerät misst jetzt an jedem Teilchen der Probe nur so lange, wie es für ein gutes Signal unbedingt nötig ist. Dafür wird an jedem Partikel anhand des Signal-Rausch-Verhältnisses die Messzeit individuell bestimmt. Die derart optimierte Integrationszeit reduziert nicht nur die Messzeit sehr deutlich, sondern schont auch die Probe und verhindert Probleme mit Fluoreszenz.

Die optimierte Bilddarstellung und -verarbeitung umfasst die Vignettenkorrektur und einen Smart Zoom, mit dem Bildauflösung und Zoomfaktor dynamisch gesteigert werden können. Es ist zudem möglich, mehrere Bereiche auf einer Probe als Bilddaten an die Software zu übergeben und dann alle vollautomatisch messen zu lassen. Somit ist es nicht nötig, die komplette Probe zu erfassen, wenn sie nur wenige interessante Bereiche beinhaltet. Diese Logik lässt sich auch bei der Dunkelfeld- und Hellfeld- sowie Fluoreszenzmikroskopie anwenden. Eine spezielle Messroutine für runde Proben mit homogen verteilten Teilchen kann von Teilbereichen extrapolieren und spart Zeit. Eine weitere Innovation erleichtert die Arbeit mit Proben, die sehr dicht gepackte, heterogene Partikel enthalten. Mittels geschickter Trennung lassen sich benachbarte oder sich berührende Partikel messtechnisch einzeln analysieren. Verbessert wurde auch die „TrueMatch“-Raman-Datenbank, die zur Analyse und Prozessierung der Daten eingesetzt wird. Sie enthält nun beispielsweise die Option, individuelle Komponenten in gemischten Spektren zu identifizieren. Außerdem wurde die Berechnung des Hit Quality Index (HQI) verbessert, indem automatisch Rauschen reduziert und das Spektrum für das Substrat, auf dem sich die Partikel befinden, abgezogen wird. Das präzisiert die Charakterisierung der Probe.

Mehr Informationen

Kontakt

WITec GmbH

Lise-Meitner-Straße 6
89081 Ulm
Deutschland

+49 (0)731 14070-0
+49 (0)731 14070-200

Newsletter

Die Physik in Ihrer Mailbox – abonnieren Sie hier kostenlos den pro-physik.de Newsletter!

Produkt veröffentlichen


Haben Sie Interesse an einer Veröffentlichung Ihrer Produktmeldung, einem Eintrag in das Bezugsquellenverzeichnis, einem Video oder einem Webinar?
 

Werbemöglichkeiten

Produkt veröffentlichen


Haben Sie Interesse an einer Veröffentlichung Ihrer Produktmeldung, einem Eintrag in das Bezugsquellenverzeichnis, einem Video oder einem Webinar?
 

Werbemöglichkeiten