Optik / Photonik

SWIR-Kameras für F&E und Machine Vision

Angebot: FLIR-Nahinfrarotkameras der Serie „A6260“ für die Laser-Profilerfassung, die Überprüfung von Silizium-Wafern sowie besondere Anwendungen wie den infraroten Blick durch Glas und aufgetragene Farbschichten.

Merkmale: Die Geräte haben einen InGaAs- bzw. VisGaAs-Detektor mit dem Wellenlängenbereich von 0,9 bis 1,7 µm oder 0,6 bis 1,7 µm. Sie bieten eine Auflösung von 640 × 512 Pixel bei 125 fps im Vollbildmodus sowie eine erstklassige Empfindlichkeit und Linearität bis hin zu Null-Licht. Optional ist eine Temperaturkalibrierung. Sie lassen sich mit anderen Instrumenten synchronisieren und sind kompatibel mit GigE Vision und GeniCam. Zur Auswertung dienen die „FLIR-ResearchIR-Max“ oder Drittanbieter-Software wie „MATLAB“.

Das Modell „FLIR A6261“ lässt sich als komplett ausgestattete SWIR-Kamera besonders flexibel und vielseitig einsetzen, da Anwender Kameraeinstellungen wie die Bildrate, Integrationszeit und Fenstergröße komplett nach ihren Wünschen und Anforderungen konfigurieren können. Das Modell wurde speziell für das IR-Kurzwellenspektrum (SWIR) im Wellenlängenbereich von 0,9 bis 1,7 µm optimiert und eignet sich dadurch besonders für Anwendungen wie die Laser-Profilerfassung und die Überprüfung von Silizium-Wafern. Ihr Sensor ermöglicht einen Verstärkungsfaktor von bis zu 75×.

Das Modell „FLIR A6262“ deckt den Spektralbereich von 0,6–1,7 µm ab, der nicht nur das infrarote Kurzwellenspektrum (SWIR) umfasst, sondern mit 600nm bis in den visuellen Bereich erweitert wurde. Die Kamera ermöglicht den Blick z. B. durch Glas, aufgetragene Farbschichten, im Lebensmittelsektor durch die oberste Schicht von Früchten (Schale) oder bei medizinischen Operationen mitunter durch Blut hindurch direkt auf das Gewebe.

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Contact

FLIR Systems GmbH

Berner Straße 81
60437 Frankfurt
Deutschland

+49 (0)69 950090-0
+49 (0)69 950090-40

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