Optik / Photonik

Multiple-Mode-AFM unter kontrollierter Gasatmosphäre

Hersteller: CSI Concept Scientific Instruments.

Angebot: Rasterkraftmikroskopsystem „Nano-Observer“, das die Möglichkeit bietet, in verschiedenen leistungsstarken Messmodi mit ein und derselben Messspitze und unter kontrollierten Umgebungsbedingungen zu arbeiten. Hierdurch wird es möglich, an einer bestimmten Probenstelle z. B. die elektrische Leifähigkeit, das Oberflächenpotenzial und die magnetische Feldstärke hochgenau zu bestimmen. Die Kontrolle der Gasatmosphäre in der Messkammer erlaubt hierbei beispielsweise, das Experiment unter inerter Umgebung oder unter gezielter Beigabe von reaktiven Gasen ablaufen zu lassen.

Merkmale: Als Messmodul für die elektrische Leitfähigkeit wird das patentierte „ResiScope“-Modul angeboten. Innerhalb eines AFM-Bilds kann damit problemlos ein Leitfähigkeitsbereich von über 10 Dekaden (100 fA–1 mA) ohne elektrisch bedingte Modifikationen der Messspitze oder Probenoberfläche dargestellt werden. Für den Einsatz auf weichen Oberflächen ist mit dem „Soft ResiScope“ die Erweiterung der Leitfähigkeitsmessungen auf den Intermittent Contact Mode erhältlich. Weitere kombinierbare Messmodi sind z. B. die hochaufgelöste Kelvin Probe Microscopy zur detaillierten Abbildung von Oberflächenpotenzialen, die Piezo Force Microscopy zur Untersuchung piezoaktiver Filme oder die Magnetic Force Microscopy, optional mit einem regelbaren Magnetfeldgenerator.

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