Merkmale: Die neue Mikroskop-Optik ermöglicht eine höchstmögliche Vergrößerung bei vollständiger radiometrischer Kalibrierung. So lässt sich eine Ortsauflösung pro Pixel (IFOV) von 2,4 μm bei 2 cm Arbeitsabstand erreichen. Das Objektiv ist mit der „FLIR X“-Serie sowie den FLIR-Kameras der Serien „A858x“ und A67xx kompatibel. Es wird in einem gepolsterten Hartschalenkoffer mit einer universellen Objektivhalterung geliefert.

Anwendungen: Ideal ist ihr Einsatz insbesondere in der Elektronikentwicklung, denn gerade dort geht der Trend in Richtung immer kleinerer Komponenten, die höhere Messauflösungen erfordern.