Vakuumtechnik

Hochvakuumumgebung für AFM

Angebot: Hochvakuumumgebungen für die elektrische Rasterkraftmikroskope (Electrical Atomic Force Microscopy, AFM). Die sog. „Scanning Spreading Resistance Microscopy“ (SSRM) im Hochvakuum ist für das Park „NX-Hivac“ erhältlich. Es erlaubt 2D-Ladungsträgerprofiling und misst die hochauflösenden SSRM-Bilder unter Hochvakuum, um so die Produktionsausbeute zu steigern.

Merkmale: SSRM erlauft eine höhere Empfindlichkeit und Auflösung im Hochvakuum als unter Normalbedingungen, führt zu einer höheren Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Messungen, gestattet die Aufnahme mehrerer Eigenschaften (elektrische, mechanische, topographische) gleichzeitig, erhöht (im sog. PinPoint-Mode) die Lebensdauer der Messspitze und verringert Probenschäden und erzeugt reibungslose Bilder (im PinPoint-Mode).

Die konduktive AFM-Messungen (C-AFM) im Hochvakuum verbessert die Bildqualität erheblich und sorgt für eine bessere Materialanalyse. Insbesondere sind die gemessenen Ströme drei Größenordnungen stärker als unter Normalbedingungen und deutlich homogener. Die im HV aufgenommenen Strom-Maps sind merklich detaillierter als an Luft aufgenommene.

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Park Systems Europe GmbH

Janderstraße 5
68199 Mannheim
Deutschland

+49 (0)621 490896-50

Lithium-Ionen-Akkus modellieren

Eine mathematische Modellierung erlaubt es, die Entwurfsparameter und Betriebsbedingungen von Lithium-Ionen-Akkus genau zu analysieren. Das Paper und ein Webinar zeigen, wie man Parameter für digitale Akkumodelle bestimmt.

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Wie man Parameter für digitale Akku-Modelle bestimmt

Akkumodelle werden häufig verwendet, um die Kühlung, Leistung und Alterung von Batterien zu simulieren.

 

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