Nachrichten

Argon-39: Die Nadel im Heuhaufen

  • 20. October 2014

Nachweismethode extrem sel­te­ner Edel­gas-Isotope er­mög­licht Unter­su­chung­en zu Glet­scher­eis und zur Tie­fen­was­ser­zir­ku­la­tion im Ozean. Mehr

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Mit MRT ein einzelnes Proton nachweisen

  • 17. October 2014

Räumliche Auflösung der Tech­nik mas­siv ge­stei­gert – ortet ein­zel­nes Wasser­stoff­atom auf Dia­mant­ober­fläche. Mehr

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Elektronen-Mikroskop mit Sinn für Chemie

  • 15. October 2014

Eine neue Generation von Raster-Transmissions-Elektronen-Mikroskopen ermöglicht Vibrations-Spektroskopie mit hoher örtlicher Auflösung. Mehr

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Landau-Zustände im freien Raum

  • 30. September 2014

„Korkenzieher-Elektronen", die sonst nur in Festkörpern vorkommen, in einem Elektronenstrahl erzeugt. Mehr

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Eine Brille für's Rasterelektronenmikroskop

  • 30. September 2014

Reflektionszonenplatten ermöglichen den präzisen Nachweis von leichten Elementen in Materialproben. Mehr

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Bismut-Ionen als Testfeld für QED

  • 29. September 2014

Eigenschaften von Elektronen in starken Magnetfeldern mit Laserspektroskopie vermessen. Mehr

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Dem Treibhausgas Methan auf der Spur

  • 19. September 2014

Wichtiger Meilenstein beim Aufbau eines satellitengestützten Sensorsystems zur unabhängigen Messung von Treibhausgasen. Mehr

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Rasante Lithiumionen bestätigen Einstein

  • 17. September 2014

Bislang genaueste direkte Messung der relativistischen Zeitdehnung. Mehr

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Plutoniumkontrolle mit Antineutrinos

  • 31. July 2014

Verlässliche Überwachung des Betriebs von Schwer­wasser­reak­toren. Mehr

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Maßgeschneiderte Oberflächeninspektion

  • 30. July 2014

Hochpräzises, modulares Inspek­tions­system zur Qualitäts­kontrolle von Bauteil­ober­flächen lässt sich kunden­spezi­fisch anpassen und in den Produk­tions­prozess inte­grieren. Mehr

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Anwendungen

In dieser Rubrik finden Sie gebündelt Nachrichten, Produktinformationen und Anbieter zu den genannten Themen.

Webinar

Einführung in die Simulation von Halbleiter-Bauelementen

  • 30. November 2017

Von Mosfets über LEDs bis zu Wafern – Halb­leiter­bau­elemente sind essen­tielle Bestand­teile moderner Tech­nik in nahezu allen Bran­chen. Die nume­ri­sche Simu­la­tion kann dabei ein wich­ti­ges Hilfs­mit­tel dar­stel­len, um diese Bau­elemen­te in ihrer Funk­tions­weise zu analy­sie­ren und somit deren Kon­zep­tion zu er­leich­tern.

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