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Optisches Profilometer für topographisches Raman-Imaging

Angebot: Neue Generation des patentierten, optischen Profilometers "TrueSurface". Die Kombination aus Oberflächenanalyse und spektraler Raman-Aufnahme ermöglicht topographisches Raman–Imaging auf rauen und unebenen Proben. So können topographische 3D-Raman-Aufnahmen noch schneller und benutzerfreundlicher in einem Messvorgang erzeugt werden.
Merkmale: Mit dem Profilometer werden Raman-Spektren präzise auf oder in einem vom Nutzer einstellbaren Abstand zur Probenoberfläche aufgenommen. Dadurch wird die Verteilung chemischer Bestandteile im Untersuchungsmaterial dreidimensional sichtbar. Raue, schräge oder irregulär geformte Materialien lassen sich damit genauso effizient untersuchen wie flache Standardproben. Die Anforderungen an die Probenpräparation können damit deutlich reduziert werden. Da der Sensor während der gesamten Messung aktiv den Abstand zwischen Objektiv und Probenoberfläche kontrolliert, wird der Untersuchungsbereich ständig im Fokus gehalten und somit der bei einer Langzeitmessung unvermeidbare thermische Drift ausgeglichen. Das Ergebnis sind scharfe, chemische 3D-Raman-Bilder mit Auflösung im Sub-Mikrometer-Bereich.
Anwendungen: Untersuchungen von pharmazeutische Tabletten, Emulsionen, geologischen Proben, komplexen Halbleiterstrukturen und vieler anderer Materialien können von der leichten Handhabung, dem beschleunigten Arbeitsablauf und den methodischen Vorteilen profitieren, die das neue System bietet.

Kontakt:

WITec GmbH
Lise-Meitner-Straße 6
89081 Ulm
Tel.: +49 (0)731 14070-0
Fax: +49 (0)731 14070-200
info@witec.de
www.witec.de

Produktvideo: https://youtu.be/8G7u9SzJbDc

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