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Elektronenspektroskopie-System für dynamische XPS-Messungen

Angebot: Elektronenspektroskopie-System "Pulse" für dynamische und schnelle XPS-Messungen. Das UHV-System kann bei seiner kompakten Konstruktion sehr flexibel angewandt und bestückt werden. Mit der angebotenen Instrumentierung lassen sich insbesondere Parameter für reproduzierbare Prozesse definieren und optimieren sowie die Dynamik von Oberflächenreaktionen beobachten und untersuchen.
Merkmale: Das "Pulse"-System ist ausgestattet mit dem "Aspect"-Analysator und der monochromatisierten Röntgenquelle "Mecs". Der zählende Multikanaldetektor des Analysators erlaubt die zeitgleiche Aufnahme von größeren spektralen Intervallen mit allen Detektorkanälen (snapshots), was zusammen mit den kurzen Auslesezeiten des Detektors Echtzeitmessungen im Bereich von Millisekunden ermöglicht. Die instrumentelle Kontrolle, Datenakquisition und Datenverwaltung mit weitreichenden Bearbeitungsfunktionen erfolgt durch die "Neo" Software. Mit höchster Spektrometertransmission, schnellem Einstellen der Spektrometer-Spannungen, kurzen Auslesezeiten und vollständig Software-unterstützter Akquisitionsmodi ist diese Einheit gezielt für dynamische und schnelle XPS-Messungen entwickelt worden.
Die Analysekammer ist durch Mu-Metall vor statischen Magnetfeldern geschirmt, was insbesondere für UPS-Messungen erforderlich ist. Durch die großzügige Portkonfiguration an der UHV-Kammer lässt sich eine Vielzahl von instrumentellen Aufbauvarianten selbst mit Verdampferquellen erreichen. Für temperaturabhängige Messungen lassen sich Probenhalter mit Heizung und Kühlung anbauen. Die Probe wird entweder über die Loadlock-Kammer durch die Schnellverschlusstür, aus einem Vakuumkoffer oder über die Ankopplung an ein weiteres UHV-System eingeführt.

Kontakt:

SIGMA Surface Science GmbH
Idsteiner Str. 78
65232 Taunusstein
Tel.: +49 (0)6128 85905-0
Fax: +49 (0)6128 85905-200
info@sigma-surface-science.com
www.sigma-surface-science.com

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