Erhellende Elektronen

  • 08. October 2014

Fachtagung zur Elektronenmikroskopie findet am 14. und 15. Oktober in Saarbrücken statt.

Bereits zum zweiten Mal veranstaltet das INM – Leibniz-Institut für Neue Materialien, die CISCEM – Conference on In-Situ and Correlative Electron Microscopy. An der internationalen Spitzenveranstaltung nehmen rund 90 Wissenschaftler aus 16 Ländern teil.

Darin diskutieren Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler aus der Biologie, Materialwissenschaft, Chemie und Physik ihre Ergebnisse, Ideen und Visionen zur elektronenmikroskopischen Forschung. Dazu zählt beispielsweise, wie sich die sogenannte korrelative Elektronenmikroskopie anwenden lässt, um biologische Prozesse im Nanometerbereich zu erforschen.

Des Weiteren widmen sich die Forscher der Frage, wie sich Abläufe bei der Biomineralisation mittels In-Situ-Elektronenmikroskopie untersuchen lassen. Ein zusätzliches Themenfeld befasst sich mit der Untersuchung von Nanopartikeln, die bei Katalyseprozessen eine wichtige Rolle spielen. Weiterhin tauschen sich die Forscher darüber aus, mit welchen Einflussgrößen sich Experimente in der In-Situ-Elektronenmikroskopie gestalten lassen. Die CISCEM 2014 findet am 14. und 15. Oktober in der Aula der Universität des Saarlandes statt .

INM / DE

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Einführung in die Simulation von Halbleiter-Bauelementen

  • 30. November 2017

Von Mosfets über LEDs bis zu Wafern – Halb­leiter­bau­elemente sind essen­tielle Bestand­teile moderner Tech­nik in nahezu allen Bran­chen. Die nume­ri­sche Simu­la­tion kann dabei ein wich­ti­ges Hilfs­mit­tel dar­stel­len, um diese Bau­elemen­te in ihrer Funk­tions­weise zu analy­sie­ren und somit deren Kon­zep­tion zu er­leich­tern.

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