Wie viel Nanometer dürfen's sein?

  • 30. July 2013

Messverfahren der PTB zur Charakterisierung von Nano-Referenzmaterialien erhält Zertifizierung durch EU.

„Nano“ ist überall: vom Deodorant über wasserabweisende Oberflächen bis hin zu harten und transparenten Lacken. Umso wichtiger, dass die Messgeräte, die bei der Produktion solcher winziger Teile eingesetzt werden, sorgfältig kalibriert sind. Die dafür notwendigen Referenzmaterialien produziert unter anderem das Institute for Reference Materials and Measurements (IRMM) der EU im belgischen Geel. Die Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) wurde nun zum zweiten Mal mit einem ihrer Verfahren in den Klub der Messinstitute aufgenommen, die am Prozess der Charakterisierung der Referenzproben des IRMM von Nanomaterialien beteiligt sind.

Drahtkugel-Modell eines Partikels und modellierte Aufnahme im Rasterelektronenmikroskop

Abb.: Drahtkugel-Modell eines Partikels und modellierte Aufnahme im Rasterelektronenmikroskop. Die Berechnung des Detektorsignals am Computer ermöglicht eine geringe Messunsicherheit an der Partikelkante. (Bild: PTB)

Diese Zertifizierung gilt als EU-Qualitätsstempel für genaue und zuverlässige Messungen. Das Prinzip der Charakterisierung: Das IRMM schickt seine Proben an verschiedene Messlabore und ermittelt anschließend aus den Ergebnissen den Referenzwert, den Kunden aus der Industrie für die Kalibrierung ihrer eigenen Messsysteme heranziehen. Auch an der Charakterisierung des gerade erschienenen Nanosilber-Referenzmaterials der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) hat die PTB mitgewirkt.

Weil die Eigenschaften der Nanopartikel von ihrer Größe abhängen, ist deren genaue Messung besonders wichtig. Zur Kalibrierung von Nanomessgeräten stellt das IRMM seinen Kunden in der Industrie Referenzmaterialien zur Verfügung. Dabei handelt es sich um Proben von Nano-Partikeln, die zuvor charakterisiert, also exakt gemessen wurden. Über die Abweichung von diesen bekannten Werten können andere Messgeräte später kalibriert werden.

Das in der Arbeitsgruppe von Egbert Buhr in der PTB entwickelte Messverfahren basiert auf der Kombination eines Rasterelektronenmikroskops mit Transmissionsmodus und einer Computer-gestützten Monte-Carlo-Simulation zur Berechnung des Detektorsignals. Auf diese Weise erreichen die Forscher selbst an den schwer zu bestimmenden Partikelkanten eine ausgezeichnete Genauigkeit. Diese Genauigkeit bekam die PTB nicht nur über die Zertifizierung des IRMM bestätigt, sondern auch im Rahmen von internationalen Vergleichsmessungen, deren Ergebnisse demnächst erscheinen. Projektleiter Buhr zeigt sich zufrieden: „Wir messen auf einen Nanometer genau – und das bei Partikelgrößen bis hinunter zu sieben Nanometern.“

Nicht nur die Arbeitsgruppe von Egbert Buhr beschäftigt sich in der PTB mit dem Winzigen. Während das hier vorgestellte Verfahren es ermöglicht, einzelne Partikel zu messen, misst die Arbeitsgruppe um Michael Krumrey am PTB-Institut Berlin mithilfe von Röntgenstrahlung die Dicke von Nano-Schichten sowie den mittleren Durchmesser und die Verteilungsbreite von Nano-Partikeln in Suspension. Auch dieses Verfahren ist bereits vom IRMM zertifiziert und für die Charakterisierung von Referenzmaterialien der BAM zugelassen. Darüber hinaus beteiligt sich die PTB am Nano-Labor LENA, das derzeit an der Technischen Universität Braunschweig entsteht.

Gemeinsam mit der Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, dem Umweltbundesamt und weiteren Bundesbehörden für Arbeitsschutz und Risikobewertung hat die PTB außerdem eine Forschungsstrategie für Nanotechnologie erarbeitet. Seit März dieses Jahres liegt dazu eine Bilanz vor, die Chancen und Risiken von mehr als 80 Projekten aus der Nanoforschung bewertet.

PTB / DE

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