Anbieter

Wählen Sie eine Kategorie aus
Suche:

SPECS Surface Nano Analysis GmbH

thumbnail image: SPECS Surface Nano Analysis GmbH

Kategorie:

Messtechnik

Anzahl der Einträge: 12

  • SPECS Surface Nano Analysis GmbH
  • Voltastr. 5
  • 13355 Berlin

Kontakt:

Stichwörter

  • Analysatoren, Elektronen-
  • Elektronenquellen
  • Ionenquellen
  • Mikroskope, Photo-Emissions-Elektronen-
  • Mikroskope, Rasterkraft-
  • Mikroskope, Rastersonden-
  • Mikroskope, Rastertunnel-
  • Plasmaquellen
  • Röntgenquellen
  • Spektrometer, Elektronen-
  • Spektrometer, LEED-
  • Spektrometer, RHEED-

Interesse?

Haben Sie Interesse an einer Veröffentlichung Ihrer Produktmeldung, einem Eintrag in das Bezugsquellenverzeichnis, einem Video oder einem Webinar?
Dann klicken Sie hier.

 

Webinar

Warum reale akustische Systeme nur multiphysikalisch simuliert werden können

  • 02. November 2017

In diesem Webi­nar wird ge­zeigt, warum man bei­spiels­weise schon bei der Simu­la­tion eines „ein­fachen“ Laut­spre­chers auf multi­phy­si­ka­li­sche Kopp­lung an­ge­wie­sen sein kann, wenn man ex­pe­ri­men­tel­le Er­geb­nis­se kor­rekt re­pro­du­zie­ren will.

Alle Webinare »

Site Login

Bitte einloggen

Andere Optionen Login

Website Footer